日本経営診断学会第50回大会で経営情報学部　藤井一郎教授が優秀賞を受賞しました

2017年10月18日ニュース＆トピックス

平成29年10月6日（金）～８日（日）に明治大学駿河台キャンパスで開催された「日本経営診断学会第50回大会」で経営情報学部経営情報学科　藤井一郎教授の診断事例報告が優秀賞を受賞しました。
日本経済診断学会は日本学術会議に所属し、「経営診断における理論と実践の融合」をキャッチフレーズに経営診断の研究およびその普及を第一義として活動しています。
50年の節目となる今大会は、記念大会として「経営診断の理論および実践の歴史的発展とその展望」を統一テーマに行われ、藤井教授の発表論文「中小企業による新卒採用を支援するための診断項目について」が優秀賞を受賞しました。